上海睿米仪器仪表有限公司
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REALMETER® 标准漏孔全场景应用白皮书
从“标准源”到“可交付证据链”:真空检漏 / 气密性检测 / 氦检(示踪气体) / RGA标定 / MFC与微流量标定 / 液态介质标准源
品牌:REALMETER®(睿米®)
公司:RealMeter Instruments (Shanghai)
2026-01-29
本文面向产线工艺/设备工程师、质量工程师与采购技术评审人员,目标是用“零基础可理解”的方式,把标准漏孔(Standard Leak)从概念讲到可落地执行。
本文不替代客户规范与法规要求;实际项目应以客户技术协议/法规/现场验证数据为准。文中给出的“建议阈值、允差、点检频次、背景门槛(SNR)”属于工程起步版本,便于快速落地,后续应通过MSA/GR&R与试产数据进行收敛。
关于商标与引用:本文中品牌可写作 REALMETER® 或 睿米®。
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0 摘要:什么是“全场景覆盖”,为什么标准漏孔是关键底座
0.1 读者是谁:你不需要懂流体力学也能用对
1 从零解释:标准漏孔到底是什么(以及它不是什么)
1.1 一句话定义(小白版)
1.2 为什么说它是‘标准源’而不是‘随便打个孔’
1.3 三个最容易混淆的概念:漏孔、漏点、缺陷孔径
2 REALMETER®(睿米®)标准漏孔的能力底座:为什么能覆盖全场景
2.1 覆盖范围:从 1e-12 mbar·L/s 到 100 mL/s(甚至更大)
2.2 流态可设计:分子流到粘滞流/壅塞流/湍流都能覆盖
2.3 微通道路线的工程优势:温度系数≈0.1%/℃、很少堵塞、抗震抗摔
2.4 低呆体积阀集成:只有一体化设计才能实现阀门呆体积≈0.098 μL(标称<0.1 μL)
3 从需求到订货号:有源 vs 无源、单气 vs 混气 vs 液态(配置方法学)
3.1 有源与无源:差别是什么(小白但准确)
3.2 单气/混气:分漏率口径必须写清楚(95P vs 95T)
3.3 液态介质标准源:用在半导体放气/RGA等场景的意义
4 应用场景 A:真空检漏与氦检(示踪气体法)——灵敏度上限最高,更接近“真漏”
4.1 为什么氦检更接近“真漏”
4.2 典型行业:先进制造为什么越来越依赖氦检
4.3 无源 He 标准漏孔用于‘工件仿真’:临界漏率→OK/NG判定体系(产线落地重点)
4.4 降氦用气:同浓度基准 + 背景门槛(SNR)让成本可控
4.5 氦检产线三层验证:机器级→工装级→系统级(带放行逻辑)
4.6 真空法/累积法/吸枪法:线性与可分辨性怎么验收(工程条款)
5 应用场景 B:气密性检测(压降法/差压法/流量法)——更便宜更快,但更容易被系统误差骗
5.1 三种方法的直观理解
5.2 标准漏孔在气密机中的用途:点检与系统级验证
5.3 四种常见连接方式(工程口径)
5.4 为什么压降法在塑料件/大容积件上天然吃亏
6 应用场景 C:RGA/质谱标定与半导体真空——关注本底恢复与记忆效应
6.1 为什么必须关注阀门死体积
6.2 混气标定两条硬规则:口径与可追溯
7 应用场景 D:MFC/流量计/微流量标定——标准漏孔=可量产的微流量标准源
7.1 为什么很多流量计厂家出厂就用标准漏孔标定
7.2 宽范围能力:用统一方法学覆盖从超低到大通量
8 应用场景 E:液态介质标准源——在高端真空/放气分析中不可替代
8.1 为什么液态标准源难,但价值更大
8.2 工程交付关键
9 选型与落地:把‘买到漏孔’变成‘用对漏孔’(SOP与验收模板)
9.1 选型清单(必须把工况写死)
9.2 三层验证模板(可直接复制到SOP)
10 FAQ:现场常问问题(工程答案)
附录
A|可复用表单模板(建议)
A.1《日点检(机器级)》记录项
A.2《工装级再验证》记录项
A.3《系统级能力验证》输出项
图1 全场景应用地图(方法 × 行业)
【快速问诊 CTA】把下面 6 个参数发给我们,即可输出:订货号 + 自动解释 + 验收口径(工程版) · 方法:真空法/累积法/吸枪法/压降/差压/流量/RGA/MFC · 介质:He%(或单气/混气P或T口径/液态) · 入口压力与单位;出口条件(真空/大气/指定背压) · 目标漏率/流量与允差;目标节拍(CT,Cycle Time) · 接口与密封:低压 M/G+O-ring;高压 NPT;真空 VCR/KF 等 · 是否需要阀组与一体化低呆体积(PSOZV/MDZV) |
表0-1 读者最关心的问题 → 对应的交付抓手(示例)
读者问题 | 常见风险 | REALMETER®交付抓手 |
为什么同一台机今天OK明天NG? | 背景漂移/记忆效应/治具漏 | 三层验证(机器级→工装级→系统级)+ OK/NG/Q0 假件 |
为什么数字对不上? | 证书口径不一致/工况没写死 | 证书绑定入口压力/温度/出口条件;现场按同口径验收 |
怎么降低氦成本还不误判? | He%下降但背景没降 | 同浓度基准 + 背景门槛(SNR)设计 + Q0/OK/NG可分辨性验证 |
【对外读者一眼能记住的结论】REALMETER®(睿米®)卖的不是“一个孔”,而是一套“可交付证据链” · 宽范围覆盖:从 1e-12 mbar·L/s 到 100 mL/s(甚至更大),同一方法学管理实验室与产线。 · 稳定与产线友好:微通道路线,温度系数约 0.1%/℃,很少堵塞,抗震抗摔,适合高频点检。 · 高真空/RGA系统级优势:漏孔单元与 PSOZV/MDZV 阀一体化,呆体积≈0.098 μL(标称<0.1 μL),降低记忆效应、加快本底恢复。 · 交付闭环:证书口径(工况写死)+ Q0/OK/NG 假件 + 三层验证SOP + 记录表模板,帮助客户“可审计放行”。 | ||
所谓“标准漏孔全场景覆盖”,不是指“一个孔能解决所有问题”,而是指:同一套标准源能力体系(几何可控、流态可设计、可追溯标定、可工程化交付)能够覆盖从超低漏率到大通量、从真空到高压、从单气到混气/液态介质、从实验室标定到产线点检/OK-NG判定的完整闭环。
在工程现场,最难的往往不是“测到一个数字”,而是“把这个数字变成可审计、可复制、可放行的证据链”。标准漏孔的价值,正是在这里:它把检漏/标定系统的性能变成可以被验证、被追溯、被量产交付的“标准源”。
·产线工艺/设备工程师:关心参数、允差、节拍(CT)、验收记录、停线/复验逻辑。
·质量工程师:关心证书口径、追溯链、背景门槛(SNR)、漂移监控、GR&R。
·研发/实验室:关心流态边界、等效通道模型、混气分漏率口径、RGA标定策略。
·采购/供应链:关心可交付周期、一致性、寿命、维护成本与风险边界。
标准漏孔可以把它理解成“一个已知大小、已知工况下会稳定漏出(或放出)一定气体/介质的标准源”。你把它接到检漏仪、真空系统或流量计上,系统读到的结果就应该与它的证书一致;如果不一致,说明系统出了问题或使用方式不对。
因为工程上真正关键的是:可重复、可追溯、可验证。随便一个孔,今天能漏、明天可能堵、温度一变就漂;标准漏孔必须在规定工况下长期稳定,并且其漏率/流量需要被标定并给出证书(包含标定条件与不确定度/允差)。
(1)漏孔(Standard Leak)是我们“故意做出来的标准源”;(2)漏点是工件上的缺陷通道;(3)缺陷孔径是你想象中的“孔大小”。现实里,漏点不一定是圆孔,可能是裂纹、间隙、密封面缺口,因此更严谨的说法是“等效泄漏通道能力”。标准漏孔提供的是稳定可控的等效通道,用来仿真和校准。
【CTA】把你的目标工况(压力/介质/出口条件/温度)发来,我们给出:结构路线建议 + 订货号 + 验收口径 · 如果你只给“一个漏率数字”,很容易买错;给“工况”,才能给出可交付方案。 |
【选型提醒(避免踩坑)】证书里必须写死的 5 个工况条件 · 入口压力与单位(例如 5 bar 绝压/表压必须明确) · 出口条件(真空/大气/指定背压) · 介质与浓度(混气需明确 P 或 T 口径) · 温度范围与是否控温 · 连接接口与密封方式(不同接口会引入不同死体积与瞬态) |
表2-1 常见结构路线的工程验收视角对比(示例)
对比维度 | 传统玻璃拉丝/离散毛细(常见) | REALMETER® 微通道路线(示意) |
一致性 | 离散大,批次差异更难控 | 几何参数更可控,更利于批量交付 |
产线可靠性 | 较脆,运输/装夹需更谨慎 | 抗震抗摔,更适合高频点检 |
维护风险 | 堵塞/损伤后不易判断根因 | 更少堵塞,便于建立点检与漂移监控 |
温度敏感 | 易出现不可预期漂移 | 温度系数约 0.1%/℃(工程可管理) |
【这一章要卖的点】为什么“能做出漏孔”不等于“能交付标准源” · 标准源的本质是:同工况、同口径、长期稳定、可追溯。做得出来≠交付得出去。 · REALMETER®通过几何可控与流态可设计,让目标工况下的输出更稳定、更可复现。 · 微通道路线带来一致性与寿命优势:温度系数约 0.1%/℃,很少堵塞,抗震抗摔。 | ||
REALMETER®(睿米®)标准漏孔的工程覆盖范围可从超低漏率 1e-12 mbar·L/s 到大通量 100 mL/s(甚至更大)。这意味着它既能服务高真空/半导体的“极低本底”场景,也能服务流量计/MFC标定与大流量吸枪校准等场景。
同一个“漏率指标”,在不同压力段对应不同流态。REALMETER®(睿米®)通过可控毛细/微通道几何(细短或粗长)实现“在指定漏率/流量下调配流态比例”,从而在目标工况下获得更稳定、可交付的输出。
在行业里常见玻璃拉丝结构存在脆弱、离散性大、温漂与寿命不确定等问题。REALMETER® 微通道标准漏孔的温度系数约 0.1%/℃,并且更不易堵塞、抗震抗摔,尤其适合产线环境与频繁点检。
在高真空/RGA等场景,阀门与管路死体积会造成记忆效应、响应变慢与本底恢复困难。需要强调:只有将漏孔单元与 PSOZV/MDZV 阀进行一体化设计,才能实现所谓阀门呆体积≈0.098 μL(标称<0.1 μL)。这不是简单“换个阀”能达到的水平,而是结构一体化带来的系统级优势。
你可以把“有源”理解为:漏孔带有气室/介质源(或更完整的供气/阀组方案),更像一个独立标准源模块;“无源”则更像:一个标准化的泄漏通道,需要你用外部气源与压力条件去驱动它。工程上,两者不是优劣关系,而是应用边界不同。
混气场景最容易出错的是“口径”。举例:主气体占摩尔体积95%,如果目标是主气体的分漏率,应写95P;如果目标是总漏率,应写95T。只要口径写错,后续所有标定与验收都会错。
液态介质(例如十二烷等)在高端真空与半导体工艺中常用于放气分析与谱图标定。液态标准源的关键点是:可控、可重复、可交付——它往往比气体更难,但对高端场景更重要。
图2 选型与配置流程(把需求转成可交付订货号与SOP)
【CTA】如果你要做“降氦 + 不误判”的产线方案,把这 3 件事发来即可开工 · 临界漏率 Q0(绑定入口压力与He%口径) · 目标节拍CT(Cycle Time)及各阶段时间分解(抽空/充气/稳压/测量/回填) · 当前背景水平与漂移趋势(至少提供一个班次的背景曲线) |
表4-1 三种氦检形态的“买点/用点/验收点”对照(示例)
形态 | 优点(买点) | 关键约束(用点) | 验收口径(验收点) |
真空法(Integral) | 最接近线性,极限灵敏度高 | 需控制记忆效应与稳态段 | OK/Q0≈0.5、NG/Q0≈2.0;稳态平均 |
累积法(Accumulation) | 适合大容积或特定工艺 | 混匀与积分窗口敏感 | 优先斜率法 d(signal)/dt;记录混匀/体积/温度 |
吸枪法(Sniffer) | 定位快、节拍友好 | 捕获效率随姿态/风场变化 | 不追线性,追可分辨性:OK<阈值<NG;误判=0 |
【这一章要卖的点】氦检的价值=高灵敏度 + 更接近真漏,但你需要一套“系统级放行”方法学 · REALMETER®推荐用 Q0/OK/NG 假件把“绝对数字争论”变成“目标CT下误判=0”的放行逻辑。 · 只要同浓度基准(工件与标准漏孔 He%相同),就能在保证可分辨性的前提下降低氦气用量;但必须同时满足背景门槛(SNR)。 · 低压常用 M/G 螺纹+密封圈做假件,高压常用 NPT;装配需记录扭矩/圈数/密封件批次,保证复装一致性。 | |||
氦检的本质是:用氦作为示踪分子,在密封体外侧用质谱检出它是否穿过缺陷通道。与压降/差压/流量法相比,它更不依赖工件容积与材料形变,因此灵敏度上限更高,尤其适合高可靠系统。
·新能源/锂电:电池包、冷却板、冷却回路、壳体与阀件的高可靠密封要求;
·制冷/空调:冷凝器/蒸发器/热交换器的长期泄漏风险控制;
·航空航天/发动机/压缩机:安全边界更严格、返修成本极高;
·核电/化工:高风险介质系统需要更接近“真漏”的验证;
·半导体/真空部件:对本底、残余气体与真空可靠性极度敏感。
在氦检中,无源He漏孔一个非常重要的用途,是对工件缺陷进行仿真:本质是在模拟“工件上孔/裂纹等缺陷通道的等效能力”。一个工件合格,物理意义上等价于:其等效泄漏通道能力必须小于某个临界值。
示例:工件临界漏率为 1×10⁻⁵ mbar·L/s @ 5 bar @ 100%He。我们可以制备一个标定无源漏孔 Q0=1×10⁻⁵(制造/标定公差例如±10%),再配套一个 NG 假件(推荐 2×Q0)与一个 OK 假件(推荐 Q0/2)。这样,判定就从“看一个绝对数字”变成“看三件套是否在目标节拍(CT)下稳定可分”。
图3 OK/NG/Q0 假件结构示意(低压M/G+O-ring;高压NPT;记录扭矩/圈数/密封件)
只要标准漏孔与被测工件使用相同的输入He体积分数(同浓度基准),就可以在保证OK/NG可分辨的前提下降低He浓度需求。但这不是“想降就降”,它必须与背景门槛(SNR)绑定:He浓度每降低10倍,允许背景上限通常也要降低约10倍,否则OK会被背景淹没。
图4 降氦浓度—背景要求—可分辨性(SNR视角示例)
为了把氦检从“仪器读数”升级为“系统级证据链”,建议使用三层验证:机器级(每天/每班)保证检漏仪本体;工装级(换线/换治具/维修后)保证治具/阀组/管路/装配动作;系统级(试产/周期性)在目标CT下证明误判为0。
图5 氦检产线三层验证流程(简体清晰版)
·推荐顺序:背景→ OK → Q0 → NG → Q0 → OK → 背景(抑制记忆效应导致的伪非线性)。
·真空法(Integral):取稳态平均值,OK/Q0≈0.5,NG/Q0≈2.0(起步容差±10%~±15%,不跨量程)。
·累积法(Accumulation):优先斜率法 d(signal)/dt;若用固定时间增量需剔除延迟段(起步容差±15%)。
·吸枪法(Sniffer):不保证线性;以窗口判定为主(OK最大值 < 阈值 < NG最小值;目标CT下误判=0),并固化距离/角度/流量/停留时间。
【CTA】把你气密机的 4 个参数发来,我们给你一条“点检闭环”SOP(带记录表) · 测试压力与稳压时间;目标CT · 目标漏率判定阈值与单位 · 工件容积/材料(是否塑料/大容积) · 你希望做机器级还是系统级点检(或两者都要) |
表5-1 压降/差压/流量法:你在现场真正要管住的“误差源”清单(示例)
方法 | 最怕的误差源 | 用标准漏孔怎么抓 |
压降法 | 温漂 + 材料形变(塑料/大容积更明显) | 用系统级标准漏孔验证:同工况下结果可复现 |
差压法 | 参考腔匹配/阀切换瞬态/零点漂 | 用机器级与半系统级点检拆分问题段 |
流量法 | 补气控制环与量程切换 | 用已知漏率点检控制环:读数=补气流量 |
【这一章要卖的点】气密性检测更便宜更快,但更容易被“系统误差”骗;标准漏孔是最省钱的防呆件 · 没有标准漏孔的气密机,很难证明“机台没漂、治具没漏、阀切换没问题”。 · REALMETER®标准漏孔用于机器级/半系统级/系统级点检,能快速定位问题在仪器、治具还是工件。 · 微通道路线更适合产线高频点检:更少堵塞、抗震抗摔、温漂更可管理。 | ||
压降法:给工件充压后看压力是否下降;差压法:工件与参考腔对比压力差;流量法:维持压力时补气流量等于漏气流量。优点是成本低、节拍快;缺点是对温度、容积、材料形变、阀切换瞬态更敏感。
气密性检测最怕的是设备/治具/阀组慢慢漂了你却不知道。标准漏孔提供“可重复的已知泄漏”,用来做机器级、半系统级与系统级点检,快速判断问题在仪器、治具还是工件。
1.直接接气密机 CAL 口:机器级验证(验证仪器本体)。
2.直接接气密机 TEST 口:半系统级验证(验证部分管路与阀组)。
3.标准漏孔连接金件(紧密连接)再接 TEST 口:系统级验证(更贴近现场)。
4.标准漏孔与金件通过三通并联再接 TEST 口:系统级变体(便于点检与切换)。
塑料件与大容积件更容易出现温漂、材料蠕变与体积弹性形变,导致压力变化不再只由泄漏决定。此时若没有标准漏孔做系统级验证,很容易把形变/温度误判为泄漏或把真实泄漏淹没。
【CTA】如果你是RGA/高真空应用,把这 5 个信息发来,我们给你一套“低记忆效应”接入方案 · 目标介质(单气/混气/液态)与口径 · 真空系统接口(VCR/KF等)与可用安装空间 · 对本底恢复时间的要求(例如切换后多久回到阈值) · 是否需要阀组联动与自动切换 · 现场清洁/烘烤/工艺限制 |
表6-1 RGA标定最常见的“口径翻车点”与规避方法(示例)
翻车点 | 后果 | 规避方法(建议写入技术协议) |
混气口径不清(P vs T) | 标定与验收全错 | 明确分漏率/总漏率;写死主气体比例 |
未写出口条件(真空侧/背压) | 同一漏孔读数不同 | 证书与现场验收统一口径 |
阀/管路死体积过大 | 记忆效应、本底慢 | 一体化低呆体积方案 + 过程SOP |
【这一章要卖的点】半导体/RGA场景要的是“本底恢复快、记忆效应低、口径一致”,核心在系统死体积 · 死体积越大,滞留越多,记忆效应越强,谱图拖尾越严重,本底恢复越慢。 · REALMETER®坚持漏孔单元与 PSOZV/MDZV 阀一体化:只有一体化设计才能达到呆体积≈0.098 μL(标称<0.1 μL)等级。 · 这带来系统级收益:响应更可控、切换冲击更小、本底更快回到可用水平。 | ||
在RGA应用中,标气/混气进入真空系统后,需要快速建立稳定分压并在关断后快速回到本底。死体积越大,滞留越多,记忆效应越强,谱图恢复越慢。
因此在高真空/RGA应用中,REALMETER®坚持漏孔单元与PSOZV/MDZV阀一体化设计,实现阀门呆体积<0.1 μL(标称0.098 μL),用于降低记忆效应并提升响应。
·口径:分漏率(P)还是总漏率(T)必须写死;主气体比例必须写死。
·证据链:证书必须包含标定工况(压力、温度、出口条件/真空侧)、允差与有效期。
【CTA】提供你的量程与目标点位,我们给你一张“校准点位图 + 漂移监控策略” · 你的流量范围与关键点位(例如低端/中端/高端) · 使用介质与压力段(真空侧/背压) · 你希望的出厂节拍与抽检频率 |
表7-1 为什么“用MFC去校准MFC”不稳:工程链路对比(示例)
链路 | 优势 | 风险 | 更推荐的做法 |
MFC↔MFC互校 | 搭建快 | 互相依赖,漂移难追溯 | 用标准漏孔做基准点检与回归 |
流量计(参考) | 直观 | 量程/分辨率受限 | 用标准漏孔覆盖关键量级点 |
标准漏孔(基准) | 可追溯、可复现 | 需要工况绑定 | 证书工况写死 + 现场按同口径验收 |
【这一章要卖的点】MFC/流量计行业买的是“一致性与可追溯”,标准漏孔=可量产的微流量标准源 · 很多流量计厂家出厂校准依赖标准漏孔,本质是把微流量变成可重复、可审计的标准源。 · REALMETER®宽范围能力(从超低漏率到大通量)让客户用一套方法学覆盖多条产线与多规格产品。 · 证书口径写死工况,让不同站点/不同批次的校准可复现。 | |||
流量计与MFC的出厂一致性要求极高:你要的是“每一台都对”。标准漏孔能把微流量变成可重复的标准源,特别适合做生产节拍内的快速校准与抽检。
当漏率/流量跨越多个数量级时,核心不是“换一套仪器”,而是“把工况绑定、把流态边界写清楚、把证书口径写清楚”,并在目标工况下验证。REALMETER®(睿米®)的宽范围能力,使得客户可以用统一的标准源体系管理不同产线与实验室。
【CTA】如果你要上液态标准源,把“设备清洁边界”先讲清楚,我们再给结构与SOP · 系统允许的烘烤/清洁方式与最高温度 · 允许的材料(不锈钢/密封材质)与禁用项 · 本底阈值与恢复时间要求 |
表8-1 液态标准源落地:风险清单 → 对应控制点(示例)
风险点 | 现场表现 | 控制点(建议) |
温度波动 | 输出漂移 | 限定环境/控温;记录温度;按口径验收 |
残留与污染 | 本底抬升/拖尾 | 清洁/烘烤SOP;低死体积接入;背景门槛 |
复装不一致 | 重复性差 | 接口标准化;扭矩/圈数/密封件批次记录 |
【这一章要卖的点】液态标准源交付难,但在高端真空/半导体放气分析中不可替代;关键是“可控释放 + 低污染 + 可验证” · 液态介质的风险点:蒸气压与温度敏感、残留污染、系统清洁要求更高。 · REALMETER®的交付重点不是“能出气”,而是把连接、阀组、清洁/烘烤、背景控制、寿命与维护写进SOP,并能被系统级验证。 · 液态标准源更适合与低呆体积阀组方案协同,降低记忆效应与残留带来的恢复时间风险。 | ||
液态介质需要解决蒸气压、温度敏感、污染与残留等问题;但在高端真空与半导体的放气分析与工艺残留监控中,它又是不可替代的真实代表物。
液态标准源更需要把连接方式、阀组、清洁/烘烤、背景控制、使用寿命与维护周期写进SOP,并用系统级验证把风险前置。
【CTA】如果你要把本文落地成“客户可签字的技术协议”,我们可以按你行业模板输出一版 · 提供客户要求的判定阈值、CT、介质与接口规范 · 我们输出:技术协议条款 + 验收口径 + 记录表 + 复验周期建议 |
表9-1 从“买到漏孔”到“可审计放行”:交付物清单(示例)
交付物 | 解决什么问题 | 典型使用场景 |
证书(工况写死) | 口径一致/可追溯 | 采购验收/跨站点复现 |
Q0/OK/NG 假件 | 可分辨性与误判=0 | 氦检产线放行/变更再验证 |
三层验证SOP | 机台/工装/系统拆分定位 | 日点检/换线/维修后 |
记录表模板 | 可审计证据链 | 客户审核/质量体系 |
【这一章要卖的点】真正能卖钱的是“落地闭环”:订货号 + SOP + 验收记录 + 放行逻辑 · 客户不是缺一个零件,而是缺一套能让质量、工艺、设备都签字放行的闭环。 · REALMETER®把‘怎么选、怎么装、怎么验收、怎么复验’写成可复制模板,降低导入成本与停线风险。 | ||
·目标:校准/点检/仿真OK-NG/工艺标定?
·方法:真空氦检/累积/吸枪/压降/差压/流量/RGA/MFC?
·介质:单气/混气(P或T口径)/液态?
·入口压力与单位、出口条件(真空/大气/指定背压)、温度范围;
·接口与密封:低压M/G+O-ring;高压NPT;真空VCR/KF等;
·需要几校准点?是否需要阀组?是否需要低呆体积一体化?
·验收:证书工况、允差、背景门槛(SNR)、漂移监控与复验周期。
5.机器级(每天/每班):背景≤OK/10;Q0读数在允差内;必要时快速跑OK/NG确认可分。
6.工装级(换线/换治具/维修后):同路径接入Q0/OK/NG假件;目标CT下OK必OK、NG必NG(建议N≥10)。
7.系统级(试产/周期性):在目标CT下连续跑N次(试产建议N≥30);输出均值、σ、σ/均值、漂移、误判次数与背景曲线。
Q1:标准漏孔能不能当成‘真实孔径’?
不能简单等价。更严谨是“等效泄漏通道能力”。孔径、长度、形状、流态都会影响漏率。
Q2:为什么证书必须写标定工况?
因为同一个漏孔在不同压力/温度/出口条件下漏率不同。不写工况就无法复现与验收。
Q3:为什么先测NG再测OK容易出问题?
大信号会抬高背景/造成记忆效应,OK可能被背景淹没,看起来就像“不线性/不稳定”。
Q4:降氦是不是一定省钱?
不一定。必须同时满足背景门槛(SNR)与目标CT下OK/NG可分;否则节拍损失可能抵消省气收益。
Q5:为什么高真空/RGA必须关注呆体积?
死体积会产生记忆效应,导致响应慢、本底恢复慢、谱图拖尾,影响标定与判定。
·日期/班次/设备SN/软件版本
·方法形态/He%/入口压力/稳压时间/测量时间(或累积时间)
·Background(背景)
·Q0读数(可选OK/NG快速分离)
·结论:Pass/Fail + 处置闭环
·变更类型:换线/换治具/维修/更换阀组或接头
·假件接口与装配记录:扭矩(或圈数/深度)、密封件批次、复装次数
·Q0/OK/NG读数 + Background
·结论与放行签字
·目标CT分解(抽空/充气/稳压/测量/回填)
·OK与NG假件连续N次数据表
·统计:均值、σ、σ/均值、首末漂移、误判次数、背景曲线
·结论:放行/停线/整改项与复验结果
注:上述为工程起步版本。最终点位/口径应结合客户规范、量程与现场验证数据收敛。
表4-2 推荐配置包(入门/标准/旗舰)|真空检漏与氦检(示踪气体)
注:上述为工程起步版本。最终点位/口径应结合客户规范、量程与现场验证数据收敛。
表5-2 推荐配置包(入门/标准/旗舰)|气密性检测(压降/差压/流量)
注:上述为工程起步版本。最终点位/口径应结合客户规范、量程与现场验证数据收敛。
表6-2 推荐配置包(入门/标准/旗舰)|RGA/质谱标定与半导体真空
注:上述为工程起步版本。最终点位/口径应结合客户规范、量程与现场验证数据收敛。
表7-2 推荐配置包(入门/标准/旗舰)|MFC/流量计/微流量标定
注:上述为工程起步版本。最终点位/口径应结合客户规范、量程与现场验证数据收敛。
表8-2 推荐配置包(入门/标准/旗舰)|液态介质标准源
配置包 | 包含内容(交付物) | 适用场景 | 验收口径(起步建议) |
入门包 | 单一液态介质 1 个释放点(基础) | 方法建立/功能确认 | 背景门槛与恢复时间满足要求 |
标准包 | 多点/多温度口径 + 标准接入方案 | 可复现标定与比较 | 按口径验收:温度/出口条件写死 |
旗舰包 | 液态标准源 + 低呆体积阀组方案 + 清洁/烘烤/背景控制SOP | 高端真空/半导体放气分析 | 拖尾与污染风险可控;恢复时间可验证 |
配置包 | 包含内容(交付物) | 适用场景 | 验收口径(起步建议) |
入门包 | 1 个关键点(最常用量级) | 出厂抽检/快速校准 | 点位可复现;记录口径一致 |
标准包 | 3 点(低/中/高)覆盖关键量级 | 出厂校准与漂移监控 | 三点回归残差受控;跨站点一致 |
旗舰包 | 多点覆盖 + 大通量/微流量组合 + 校准点位图与漂移策略 | 多型号量产、长期一致性 | 标准源体系化:证书+SOP+监控表 |
配置包 | 包含内容(交付物) | 适用场景 | 验收口径(起步建议) |
入门包 | 单气或混气 1 个标定点(口径写死) | 基础标定/功能确认 | 证书包含入口压力/出口条件/温度 |
标准包 | 多点标定(按分压/流态段)+ 混气口径(P/T)明确 | 更高准确度、跨批次复现 | 切换响应与本底恢复满足阈值 |
旗舰包 | 标定点 + PSOZV/MDZV 一体化低呆体积方案 + 过程SOP(清洁/烘烤/切换) | 降低记忆效应、提升节拍与稳定性 | 呆体积≈0.098 μL(标称<0.1 μL)级别的系统优势可验收 |
配置包 | 包含内容(交付物) | 适用场景 | 验收口径(起步建议) |
入门包 | 1 个标准漏孔点(贴近阈值) | 机器级点检(CAL口或TEST口) | 点检值在允差内;漂移可追溯 |
标准包 | 阈值点 Q0 + 上下限点(OK≈Q0/2、NG≈2×Q0) | 系统级点检/定位问题段 | 可分辨性明确;更换治具后可复现 |
旗舰包 | 多点(覆盖量程)+ 现场连接方案(直连/金件/三通)+ 点检闭环SOP | 多型号共线、质量审计 | 一套表单覆盖:机器/工装/系统三层验证 |
配置包 | 包含内容(交付物) | 适用场景 | 验收口径(起步建议) |
入门包 | Q0 单只(绑定入口压力/He%口径) | 机器级点检/单机确认 | 背景≤OK/10;Q0在证书允差内 |
标准包 | Q0 + OK(Q0/2) + NG(2×Q0) 三件套 | 系统级可分辨性验证、换线/维修后放行 | 目标CT下误判=0;OK<阈值<NG |
旗舰包 | 三件套 + 适配假件接口(低压M/G+O-ring或高压NPT)+ 定制SOP/表单 | 量产导入、跨站点一致性、客户审核 | 提供完整证据链:记录表+漂移监控+复验周期 |